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            一体式原子力显微镜有三种工作模式

            点击次数:859  发布时间:2019-04-19
                 一体式原子力显微镜适合于高校纳米科技教学、科学研究、纳米材料及粉体分析、电化学测量、生物制药和工业现场测试。作为专业AFM制造商,海兹思具有十多年的AFM技术经验和积累,能够提供及时的专业技术支持和售后服务。
                一体式原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有三种操作模式:接触模式、非接触模式和敲击模式。
                1、接触模式:从概念上来理解,接触模式是AFM较直接的成像模式。正如名字所描述的那样,AFM在整个扫描成像过程之中,探针针尖始终与样品表面保持紧密的接触,而相互作用力是排斥力。扫描时,悬臂施加在针尖上的力有可能破坏试样的表面结构,因此力的大小范围在10-10~10-6N。若样品表面柔嫩而不能承受这样的力,便不宜选用接触模式对样品表面进行成像。
                2、非接触模式:非接触模式探测试样表面时悬臂在距离试样表面上方5~10nm的距离处振荡。这时,样品与针尖之间的相互作用由范德华力控制,通常为10-12N,样品不会被破坏,而且针尖也不会被污染,特别适合于研究柔嫩物体的表面。这种操作模式的不利之处在于要在室温大气环境下实现这种模式十分困难。因为样品表面不可避免地会积聚薄薄的一层水,它会在样品与针尖之间搭起一小小的毛细桥,将针尖与表面吸在一起,从而增加对表面的压力。
                3、敲击模式:敲击模式介于接触模式和非接触模式之间,是一个杂化的概念。悬臂在试样表面上方以其共振频率振荡,针尖仅仅是周期性地短暂地接触/敲击样品表面。这就意味着针尖接触样品时所产生的侧向力被明显地减小了。一旦AFM开始对样品进行成像扫描,装置随即将有关数据输入系统,如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰顶之间的大距离等,用于物体表面分析。同时,AFM还可以完成力的测量工作,测量悬臂的弯曲程度来确定针尖与样品之间的作用力大小。
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